中芯國際2024年第三季度的業(yè)績表現(xiàn)總體符合預(yù)期，并且在多個(gè)方面表現(xiàn)超出市場預(yù)期。我們可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)分析： 1. 財(cái)務(wù)表現(xiàn) 營收：第三季度營收達(dá)到21.7億美元，同比增長34%，環(huán)比增長14.2%，符合公司給出的指引范圍（13%-15%）。 毛利率：毛利率達(dá)到了20.5%，超出了預(yù)期的18……

11月5日晚間，國產(chǎn)存儲(chǔ)芯片及MCU大廠兆易創(chuàng)新發(fā)布公告稱，擬與多家投資方組共同以現(xiàn)金方式收購蘇州賽芯電子科技股份有限公司（以下簡稱“蘇州賽芯”或“標(biāo)的公司”）全體股東合計(jì)持有的蘇州賽芯70%的股份。 根據(jù)北京卓信大華資產(chǎn)評(píng)估有限公司對(duì)蘇州賽芯 100%股權(quán)截至基準(zhǔn)日（即 2024 年 6 月 30 日）的價(jià)值進(jìn)……

我們可以將集成電路版圖設(shè)計(jì)比作城市規(guī)劃和建筑設(shè)計(jì)的結(jié)合。就像在有限的土地上規(guī)劃建筑和道路布局一樣，版圖設(shè)計(jì)需要在有限的芯片空間上安排晶體管、布線和各類元件，以實(shí)現(xiàn)功能和性能的最大化。 一、什么是版圖設(shè)計(jì)？ 版圖設(shè)計(jì)是將電路的邏輯功能通過物理層次實(shí)現(xiàn)出來的過程。它類似于建筑圖紙的設(shè)計(jì)工作，需要通過EDA工具（……

氧化工藝在CMOS集成電路制造中是一個(gè)非常重要的步驟，用于在硅片（Si wafer）表面生長二氧化硅（SiO2）。生長SiO2的過程可以類比為給硅片“穿上一層保護(hù)外衣”，這種外衣可以起到絕緣、防護(hù)和隔離等作用。 1. 準(zhǔn)備基材（硅片） 首先，需要準(zhǔn)備一塊高純度的硅片。這就像在一張空白的畫布上進(jìn)行繪畫，硅片是……

低電壓模擬電路設(shè)計(jì)技術(shù)的核心是要在盡可能低的電源電壓下，實(shí)現(xiàn)高效的模擬信號(hào)處理。這種設(shè)計(jì)思路主要受到移動(dòng)設(shè)備、植入式醫(yī)療設(shè)備等應(yīng)用場景的需求驅(qū)動(dòng)。由于這些設(shè)備的空間和能量資源有限，工程師們需要找到能夠在低電壓（如3V以下）下高效工作的電路設(shè)計(jì)方法。 1. 技術(shù)選擇與工藝背景 低電壓設(shè)計(jì)首先受到半導(dǎo)體工藝的限……

據(jù)《朝鮮日?qǐng)?bào)》、朝中社等媒體報(bào)道，韓國駐華大使館于10月28日表示，一名50歲韓國男子A某因涉嫌“向韓國泄露中國半導(dǎo)體信息”，被以“間諜罪”于去年12月被中國警方拘留。這是自去年 7 月中國修訂的《反間諜法》生效以來，第一起根據(jù)該法逮捕韓國人的案件。 報(bào)道稱，A某現(xiàn)居安徽省合肥市，在當(dāng)?shù)匾患野雽?dǎo)體公司工作，與妻子……

據(jù)“九峰山實(shí)驗(yàn)室”官方消息，2024年9月，該實(shí)驗(yàn)室在硅光子集成領(lǐng)域取得里程碑式突破性進(jìn)展——成功點(diǎn)亮集成到硅基芯片內(nèi)部的激光光源，這也是該項(xiàng)技術(shù)在國內(nèi)的首次成功實(shí)現(xiàn)。 顯微鏡下，片上光源芯片的光輸出視頻 隨著人工智能大模型的開發(fā)和應(yīng)用，以及自動(dòng)駕駛等技術(shù)的發(fā)展，對(duì)于芯片算力的需求持……

據(jù)《經(jīng)理人》援引研究機(jī)構(gòu)Rho Motion的最新調(diào)查數(shù)據(jù)報(bào)道稱，2024年9月，全球電動(dòng)汽車市場總計(jì)售出170萬輛電動(dòng)車，創(chuàng)下新的銷售紀(jì)錄。其中，以中國電動(dòng)汽車市場表現(xiàn)最突出，單月銷售110萬輛刷新紀(jì)錄，幾乎占全球市場66%的份額。 2024年初至9月底，全球共賣出1,150萬輛電動(dòng)車，其中國市場銷量高達(dá)720……

10月25日消息，據(jù)Tomshardware援引@NickBrownHPC 的爆料稱，盡管英偉達(dá)（NVIDIA）的 GPU 依賴于其專有的 CUDA 內(nèi)核，這些內(nèi)核具有其指令集架構(gòu)并支持各種數(shù)據(jù)格式。但是在本月的RISC-V峰會(huì)上，英偉達(dá)透露，這些內(nèi)核由依賴于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) RISC-V ISA 的定制內(nèi)核控制，盡管有一些擴(kuò)……

失效分析的目的是通過技術(shù)手段找出器件失效的根本原因，并推動(dòng)改進(jìn)措施的實(shí)施，從而提升生產(chǎn)工藝、改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高良率和可靠性。EMMI是在失效分析過程中經(jīng)常使用的設(shè)備之一，它們能夠幫助分析人員檢測電氣故障，并定位失效的具體位置。 1. EMMI的基本原理 EMMI（Electro-Magnetic Induc……

在集電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個(gè)非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進(jìn)行，但二者的目的、測試對(duì)象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。 一、整體概述：CP測試和WAT測試 我們可以把集成電路的制造過程……

探針卡（Probe Card）在集成電路測試中起著至關(guān)重要的作用，尤其在晶圓測試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測試機(jī)臺(tái)和半導(dǎo)體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對(duì)其電學(xué)性能進(jìn)行初步測量和篩選。 1. 什么是探針卡？ 探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽診器”，幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”。……